本学の共用設備の利用促進により、研究力の強化を推進することを目的として、
標記のセミナーを下記のとおり開催します。

今回は、集束イオンビーム加工観察装置（FIB）、透過型電子顕微鏡（TEM）について紹介します。
教職員、学生並びに企業等、多くのご参加をお待ちしています。

１　日時　令和４年７月２９日（金）　13:00 - 14:00

２　会場　オンライン開催（Zoom）

３　プログラム

13:00 -13:30  集束イオンビーム装置の活用法技術部（材料評価WT）山室　賢輝
観察と加工が可能な集束イオンビーム装置について、その基本的な機能や用途について解説する。
特にTEM試料作製については、その後の観察をより効果的にするための
採取方法や事前の解析についてのアイデアを提案する。

13:30 -14:00　透過型電子顕微鏡の基礎　技術部（材料評価WT）津志田　雅之　
透過型電子顕微鏡で何ができるかを中心に、装置の特徴、得られる像やコントラスト、
エネルギー分散型X線分光法による微小部分析などについて解説する。
また、工学部附属工学研究機器センターで管理している透過型電子顕微鏡（JEM-2100Plus、Tecnai G2 F20）を紹介する

４　参加方法
参加申込は必要ありません。開始時刻が近づきましたらミーティングにご参加ください。
詳細は以下の連絡先までお問い合わせください。

５　参加費　無料

【お問合せ】
熊本大学技術部　コアファシリティ推進WT
E-mail：coref_wt@tech.kumamoto-u.ac.jp